不同波形沖擊電流的等效變換——電涌保護器應用中的幾個(gè)問(wèn)題的探討
不同波形沖擊電流的等效變換
SPD的沖擊電流試驗會(huì )碰到諸如8/20、10/350、10/1000或2ms等不同波形,那么從對于SPD的破壞作用等效的角度看,如何進(jìn)行不同波形沖擊電流的峰值換算,有人主張按電荷量相等的原則進(jìn)行換算。按照這一原則,只要將兩種不同波形的電流波對時(shí)間積分,求得總的電荷量,令兩個(gè)電荷量相等,就可得到兩種波的電流峰值之間的比例關(guān)系了。這種變換方法與泄放沖擊電流的元件沒(méi)有一點(diǎn)關(guān)系,顯然是不切合實(shí)際的。還有人主張按能量相等的原則進(jìn)行換算。按照這一原則,不僅要知道兩個(gè)電流波形,還要知道當這兩個(gè)電流波流入電壓抑制元件時(shí),該元件兩端限制電壓的波形,然后將各個(gè)時(shí)刻對應的電流值和電壓值相乘而得出功率波,再將功率波對時(shí)間積分得出能量,令兩個(gè)能量值相等,就可得到兩個(gè)電流峰值之間的比例關(guān)系了。這種變換方法考慮到了具體的非線(xiàn)性元件,但沒(méi)有考慮沖擊電流的熱效應和電流值很大時(shí)的電動(dòng)力效應。實(shí)際上就氧化鋅壓敏電阻而言,它能承受的8/20沖擊電流的能量比承受2ms時(shí)的能量大,如圖4所示[4]。該圖表明了厚度為1.3mm的早期壓敏電阻樣品能承受的沖擊電流能量隨電極面積的變化??梢?jiàn),能量相等的原則至少對壓敏電阻是不適用的。
對氧化鋅壓敏電阻在大電流下破壞機理的研究得出了下述結果[4];在大電流作用下,壓敏電阻的破壞模式有兩種(見(jiàn)圖5),當大沖擊電流的時(shí)間寬度不大于50μs時(shí)(例如4/10和8/20波),電阻體開(kāi)裂;當電流值較小而時(shí)間寬度大于100μs時(shí)(例如10/350、10/1000和2ms波),電阻體穿孔。兩種不同破壞模式可以這樣解釋?zhuān)簳r(shí)間很短的大電流在電阻體內產(chǎn)生的熱量來(lái)不及向周?chē)鷤鲗?,是個(gè)絕熱過(guò)程,加上電阻體的不均勻使電流的分布不均勻,這樣電阻體不同部位之間的溫差很大,形成很大的熱應力而使電阻體開(kāi)裂。當沖擊電流的作用時(shí)間較長(cháng)時(shí),電阻體不均勻造成的電流集中,使電阻體材料熔化而形成穿孔。
圖5的實(shí)驗曲線(xiàn)表明,使用壓敏電阻體破壞的電流密度J(A·cm-2)與沖擊電流波的時(shí)間寬度r(μs)之間的關(guān)系,在雙對數坐標中大體為一條斜率為負值的直線(xiàn),因而可用下面的方程式來(lái)表達:
logJ=C-Klogr
式中,C和K是與具體器件相關(guān)的兩個(gè)常數,可以根據實(shí)驗資料推算出來(lái),于是就可以計算出這種產(chǎn)品能夠承受的不同波形沖擊電流的峰值了。
綜上所述,對于以壓敏電阻作為非線(xiàn)性抑制元件的SPD,為進(jìn)行不同波形沖擊電流之間的等效變換,應以?xún)煞N不同波形(例8/20、10/350)的沖擊電流對所選定的壓敏電阻進(jìn)行試驗,分別得出使試樣失效的兩個(gè)電流峰值,代入上式,求得常數C和K的具體數值,然后利用該公式進(jìn)行計算。試驗式不一定進(jìn)行到樣品開(kāi)裂或穿孔,可將壓敏電壓變化達到-10%作為失效判據。
應當指出,就是不同企業(yè)、不同批次的壓敏電阻器,盡管尺寸規格相同,但實(shí)際能承受的沖擊電流(能量)的水平可能相差很大,因此必須對每批供貨逐批抽樣檢驗。
5SPD的殘壓與沖擊電流峰值關(guān)系
IEC61643-1對SPD限制電壓的測量方法作了這樣的規定:若測試信號為8/20電流波,則要求在標稱(chēng)放電電流In的0.1、0.2、0.5、1.0和2.0倍下測出殘壓值,且正反向都必須測量,然后做出殘壓-電流風(fēng)流值的擬合曲線(xiàn),取曲線(xiàn)上的最高點(diǎn)作為SPD的限制電壓值。若測試信號為組和波,則要求在開(kāi)路電壓U 0.1、0.2、0.5和1.0倍下測出殘壓值,且正反向都必須測量,以測得殘壓值中的最高值作為SPD的限制電壓值。這意味著(zhù)SPD的最高殘壓值不一定發(fā)生在最大沖擊電流下的時(shí)候。當SPD中有電抗組件(例如L-C低通濾波器)的時(shí)候,可觀(guān)測到小沖擊電流下的殘壓高于大沖擊電流下的殘壓的情況,證明了IEC61643-1的這種規定的合理性。若已經(jīng)確切地知道了SPD中沒(méi)有電抗,而僅由限壓型或開(kāi)關(guān)型非線(xiàn)性元件,以及兩端口SPD中的隔離元件不是電感而時(shí)電阻的話(huà),則因為這類(lèi)SPD的最高殘壓總是發(fā)生在沖擊電流峰值大的時(shí)候,因此,只要在最大電流峰值下測定即可。
還應指出,當以8/20電流波測量壓敏電阻的殘壓時(shí),電流波達到峰值Ip的時(shí)刻ti,與電壓波達到峰值Up的時(shí)刻tu并不重合,tu先于ti(見(jiàn)圖6(a))。這是由壓敏電阻本身的特性所決定的,前面講到,當沖擊過(guò)電壓侵入時(shí),壓敏電阻從“絕緣”變成“導通”的響應時(shí)間不超過(guò)1ns,但導通電阻從大到小,達到穩態(tài)值則需要較長(cháng)的時(shí)間。也就是說(shuō),在8/20電流波的作用時(shí)間內,壓敏電阻的電阻值r還在不斷減小,而電壓波是每一時(shí)刻的電流值I與該時(shí)刻的電阻值r相乘所形成的,因而電壓波的峰點(diǎn)與電流波的峰點(diǎn)不會(huì )在同一時(shí)刻出現。
壓敏電阻的8/20沖擊電流試驗中,經(jīng)常會(huì )看到如圖6(b)所示的電壓波,即一開(kāi)始有一個(gè)尖峰,且波頂明顯下傾。這不是壓敏電阻的真實(shí)限制電壓波,而是放電電流的輻射干擾電壓L 迭加在正常限制電壓上的結果。
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